著書・解説記事

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2010年

森田清三、杉本宜昭、阿部真之;「原子分解能を持つ非接触原子間力顕微鏡の開発研究」、表面科学、Vol.31, (社)日本表面科学会創立30周年記念特集号、分野別記念解説、No.1 (2010) pp.19-24.

2009年

森田清三、杉本宜昭、阿部真之;「交換型垂直原子操作を用いたアトムペン方式の原子埋め込み文字の研究」、表面科学、Vol.30, No.8 (2009) pp.454-459.

阿部真之、杉本宜昭、森田清三;「表面機能元素の直接観察」、まてりあ、プロジェクト報告「機能元素のナノ材料科学」、第48巻、第6号 (2009)pp.294-298.

森田清三、杉本宜昭、阿部真之;「力学的原子操作による原子埋め込み文字の室温組立」、機能材料、Vol.29, No.5 (2009) pp.28-33.

阿部真之、杉本宜昭、森田清三;「“原子ペン”,室温で」、CERAMICS JAPAN, Vol.44, 2月号 (2009) p.126(トピックス欄)

2008年

森田清三;「走査型プローブ顕微鏡」、真空、小特集「極限的な計測技術の最近の動向3―走査型プローブ顕微鏡―」序論、Vol.51, No.12 (2008) pp.769-770.

森田清三;「走査プローブ顕微鏡の基礎と表面原子操作の最先端」、社団法人 日本表面科学会 主催(2008年秋季)第46回 表面科学基礎講座、神戸大学 瀧川記念学術交流会館、2008年10月1日(水)~2日(木)、資料集pp.237-264

森田清三;「走査プローブ顕微鏡―見果てぬ夢のツール―」、応用物理、世界物理年記念レビュー、Vol.77, No.9 (2008) pp.1049-1058.

森田清三;「原子操作で多元素系ナノ材料・ナノデバイスを創る夢」、ATI News, 第7号(2008) pp.2-5.

森田清三、杉本宜昭、大藪範昭、オスカル・クスタンセ、阿部真之;「フォースカーブによる元素識別とフォース・マッピング」、表面科学、Vol.29, No.4, April (2008) pp.214-220.

阿部真之、杉本宜昭、森田清三;「原子間力顕微鏡―超高分解能イメージングから原子操作,原子識別のツール―」、未来材料、Vol.8, No.2 (2008) pp.6-9.

森田清三;「ナノ計測・加工・評価技術と原子間力顕微鏡」、東レリサーチセンター The TRC NEWS、No.102 (2008) pp.1-13.

2007年

西竜治、李仁淑、宮川大輔、森田清三;「非接触原子間力顕微鏡(NC-AFM)による原子識別-原子を観て、識別して、動かす-」、日本学術振興会 荷電粒子ビームの工業への応用第132委員会 第179回研究会、要旨集p.48-55、2008(H20)年1月25日13:00~16:45 弘済会館 4階「会議室:梅」

杉本宜昭、阿部真之、オスカル クスタンセ、森田清三;「AFMによる個々の原子の元素同定」、固体物理、走査プローブ顕微鏡で見る固体物理、Ⅴ.物性イメージング、42巻、11月号 (2007) pp.775-783

阿部真之、杉本宜昭、森田清三;「原子分解能を有する原子間力顕微鏡法の新展開―原子種識別や原子操作を行うための新技術―」、日本物理学会誌、Vol.62, No.11 (2007) pp.829-837.

阿部真之、杉本宜昭、森田清三;「原子の指紋―原子間力顕微鏡による元素識別―」、現代化学、No.440, 11 (2007) pp.22-26.

森田清三、杉本宜昭、オスカル クスタンセ、阿部真之;「AFMによる原子操作と複素ナノ構造体組立」、顕微鏡、第42巻、第2号 (2007) pp.100-105.

森田清三;「高分解能・高機能原子間力顕微鏡の進展と今後の展望]、日本表面科学会関西支部15周年記念特別講演会 「関西が拓く新しい表面材料・分析科学」 特別講演会要旨集 pp.33-36、神戸大学百年記念会館 2007年5月28日(月)13:30~17:20 [講演15:50~16:30]

森田清三、杉本宜昭、オスカル クスタンセ、阿部真之;「原子間力顕微鏡を用いた原子識別・操作による複素ナノ構造体の組立」、(社)応用物理学会・日本光学会 微小光学研究グループ 第104回微小光学研究会 テーマ:「表面と微小光学」、微小光学研究グループ機関誌 pp.1-6、2007年5月29日(火)10:10~10:40 場所:慶応義塾大学日吉キャンパス来往舎1階シンポジウムスペース

森田清三、杉本宜昭、大藪範昭、O.クスタンセ、阿部真之、P.ポウ、P.ジェリネク、R.ペレッツ;「複素ナノ構造体を組み立てる-原子間力顕微鏡で原子を識別・操作・組立-」、真空、第50巻、第3号 (2007) pp.181-183 (速報)

2006年

森田清三、「極微の力で固体表面を観る」、学術月報[特集:観察と計測・分析の科学]、Vol.59 No.3、 (2006) pp.158-162

森田清三、「ナノ力学に基づいた原子分子操作組立技術の開発」、未来材料、第6巻 第1号、(2006) pp.56-57

阿部真之、「原子レベルでの新機能材料探索・作成技術の開発」、ケミカル・エンジニアリング、第51巻 第1号、(2006) pp.36-41

杉本宜昭、森田清三;「原子間力顕微鏡による室温での個々の原子の識別・操作とナノ構造の組立」、日本物理学会誌、最近の研究から、Vol.61, No.6 (2006) pp.416-419.

森田清三、杉本宜昭、オスカル・クスタンセ、阿部真之;「原子間力顕微鏡による原子の力学的識別・操作・組立」、真空、Vol.49, No.11 (2006) pp.637-641

杉本宜昭、阿部真之、オスカル・クスタンセ、森田清三;「NC-AFMによるSi(111)-(7x7)表面でのSi adatomの室温水平原子操作」、表面科学、第27巻、第9号 (2006) pp.535-539.

森田清三、杉本宜昭、大藪範昭、オスカル・クスタンセ、阿部真之;「フォーススペクトロスコピーと力学的原子操作・組立」、(独)日本学術振興会 マイクロビームアナリシス第141委員会 第124回研究会資料、平成18年5月16日(火)~17日(水)石川県立音楽堂 (2006) pp.1-6.

森田清三、富取正彦;「急速に進歩・発展する高分解能AFM」、応用物理、1月号、シンポジウム報告 第66回応用物理学会学術講演会(2005年)、Vol.75, No.1 (2006) pp.109-110.

阿部真之、森田清三;「周波数検出方式原子間力顕微鏡の超高分解能化とフォーススペクトロスコピー」、計測と制御、第45巻、第2号、2月号 (2006) pp.93-98.

阿部真之、杉本宜昭、オスカル・クスタンセ、森田清三;「原子間力顕微鏡を用いた室温におけるsite-specificなフォーススペクトロスコピー」、表面科学、第27巻、第2号 (2006) pp.90-94.

2005年

森田清三;「走査型プローブ顕微鏡」、パリティ、12月号 特集"物理科学, この20年"[物性物理] (2005).

森田清三;「原子間力顕微鏡の力学的原子識別・操作・組立への応用」、研究会「走査プローブ顕微鏡の最前線とシミュレータ」資料集 (2005) pp.4-8.

 1)森田清三、大藪範昭、杉本宜昭、Oscar Custance、阿部真之;「原子間力顕微鏡による室温水平原子操作と組立」、固体物理、Vol.40, No.4, pp.47-54 (2005). PDFファイル 

 2)森田清三、杉本宜昭、大藪範昭、Oscar Custance、西 竜治、清野 宜秀、李 仁淑、阿部真之;「原子間力顕微鏡によるSiとGe表面での原子操作」、表面科学、第26巻、第6号 (2005) pp.351-356. PDFファイル

   杉本宜昭、阿部真之、Oscar Custance、森田清三;「非接触原子間力顕微鏡を用いた『交換型原子操作』」、表面科学、第26巻、第7号 (2005) pp.415-420. PDFファイル

 

2004年

 1) 森田清三、Oscar Custance, 大藪範昭、西 竜治、李 仁淑、清野宜秀、阿部真之;「原子押し込み-AFMによる原子の力学的垂直操作-」、物性研究、Vol.81, No.6 (2004) pp.900-903.

 2  森田清三;「先端計測分析機器開発」、表面科学 巻頭言、Vol.25, No.9 (2004) p.1

 3)   森田清三;「原子間力顕微鏡による半導体表面のミクロ評価技術」 平成16年度高度技術研修「有機-無機ナノデバイスの最前線」資料集、(2004) pp.36-50.

 4)   森田清三;「原子間力顕微鏡の進歩と応用」 第20回表面技術セミナー資料集 (2004) pp.1-16.

 5)   森田清三;「NC-AFMの力学的原子識別・操作・組立への応用」 日本顕微鏡学会SPM分科会H16年度研究会資料集 (2004) pp.28-31.

 6) 森田清三;「走査プローブ顕微鏡の基礎と応用」 日本表面科学会主催(2004年秋季) 第38回表面科学基礎講座「表面・界面分析の基礎と応用」資料集(2004) pp.241-255.

 7) 森田清三;「原子間力顕微鏡による半導体原子の力学的原子操作」 平成16年度日本顕微鏡学会アクティブ・ナノ顕微鏡研究部会第3回研究会―アクティブ・ナノ顕微鏡最近の展開―資料集(2004) pp.33-40.

 

2003年

森田清三、岡本憲二、内橋貴之、阿部真之、菅原康弘;「原子間力顕微鏡を使った電荷の原子レベル観察」静電気学会誌、特集「静電気現象と分子エレクトロニクス」、Vol.27、No.2 (2003) pp.64-68.

森田清三;「次世代ナノテクノロジー」、大阪大学全学共通教育機構“共通教育だより”No.22, 2003.4, pp.18-20.

森田清三、菅原康弘;「21世紀のナノテクノロジー」電気と保安、Vol.2, No.394 (2003) pp.3-7.

 

2002年

森田清三;「ナノ構造を観察する―走査型プローブ顕微鏡―」日本の科学者, Vol.37, No.2 (2002) pp.60-67.

森田清三、菅原康弘;「非接触原子間力顕微鏡で半導体の何がどこまで見えるか?」表面科学, Vol.23, No.3 (2002) pp.132-140.

森田清三、菅原康弘;「SPMの動向―非接触AFMの現状と将来―」日本学術振興会薄膜第151委員会、第60回研究会資料 (2002) pp.1-8.

森田清三、菅原康弘;「走査プローブ顕微鏡による複合極限場での原子イメージング」まてりあ、Vol.41, Vol.9 (2002) pp.604-609.

森田清三、菅原康弘;「走査プローブ顕微鏡によるナノ加工と評価」電子情報通信学会誌、Vol.85, No.11 (2002) pp.858-865.

森田清三、菅原康弘;「走査型プローブ顕微鏡の現状と将来―非接触AFMを中心として―」計測自動制御学会、第21回先端電子計測部会講演会「ナノテクノロジーを支える先端計測技術―SPMの現状と展望―」資料 (2002) pp.1-6.

森田清三、岡本憲二、菅原康弘;「1.非接触原子間力顕微鏡による静電気力観察」まてりあ、特集「各種顕微鏡法による先端材料評価最前線」、Vol.41、No.12 (2002)pp.840-841.

森田清三、菅原康弘;「非接触原子間力顕微鏡による半導体原子の機械的操作と同定」SEMICON Japan 2002, SEMI Technology Symposium (STS) 2002, Session 8: Nanotechnology-Key Technology for the Semiconductor Industry in the 21st Century-, (2002) pp.8-26~8-30.

 

2001年

森田清三、「次世代ナノテクノロジー」大阪大学工業会誌「テクノネット」 No.511 (2001) pp.24-27.

森田清三、「21世紀の原子分子ナノテクノロジー」大阪大学低温センターだより、No.113、1月 (2001) pp.5-9.

森田清三、菅原康弘、「次世代ナノテクノロジー」大阪大学工業会誌テクノネット、No.511、1月 (2001) pp.24-27.

森田清三、菅原康弘;「走査プローブ顕微鏡によるナノテクノロジー」、応用物理, Vol.70, No.10 (2001) pp.1155-1164.

菅原康弘、森田清三;「ノーベル賞と分光学 Ⅳ.走査型トンネル顕微鏡と原子間力顕微鏡」分光研究, Vol.50, No.3 (2001) pp.284-293.

森田清三;「21世紀のナノテクノロジーへの期待」応用物理学会薄膜・表面物理分科会NEWS LETTER, No.113 (2001) pp.1-2.

森田清三、菅原康弘;「半導体表面ナノ力学」、日本学術振興会薄膜第131委員会、第207回研究会資料 (2001) pp.15-20.

2000年

森田清三、菅原康弘「原子間力顕微鏡による帯電素過程の研究」、 静電気学会誌、Vol.24, No.1 (2000) pp.8-14.

森田清三、菅原康弘「ナノ力学に基づいた原子分子技術」、生産と技術、第52巻、第2号 (2000) pp.9-14.

森田清三、「21世紀のナノテクノロジー」、 KAST Report、第12巻、第1号 (2000) pp.2-7.

森田清三、菅原康弘、「非接触原子間力顕微鏡と原子分子のナノ力学」、学術月報,Vol.53, No.12 (2000) pp.1319-1324.